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納米顆粒追蹤表征的工作原理:分析原理:納米顆粒追蹤分析技術(shù),利用光散射原理,不同粒徑顆粒的散射光成像在CCD上的亮度和光斑大小不一樣,依此來確定粒徑尺寸;合適濃度的樣品均質(zhì)分散在液體中可以得出粒徑尺寸分布和顆粒濃度信息,準(zhǔn)確度非常高。
查看全文X射線衍射儀技術(shù)(XRD)注意事項:(1)固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。(2)對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,衍射強(qiáng)度異常,需提供測試方向。(3)對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力(晶格畸變),測量殘余奧氏體,要求制備成金相樣品,并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,消除表面應(yīng)變層。(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大于5g。
查看全文X射線衍射儀技術(shù)(XRD)可為客戶解決的問題:(1)當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例。(2)很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度。(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。(5)納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)...
查看全文X射線衍射XRD工作原理:分析原理:X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。
查看全文電感耦合高頻等離子體ICP工作原理分析原理:利用氬等離子體產(chǎn)生的高溫使用試樣*分解形成激發(fā)態(tài)的原子和離子,由于激發(fā)態(tài)的原子和離子不穩(wěn)定,外層電子會從激發(fā)態(tài)向低的能級躍遷,因此發(fā)射出特征的譜線。通過光柵等分光后,利用檢測器檢測特定波長的強(qiáng)度,光的強(qiáng)度與待測元素濃度成正比。
查看全文分析原理:隧道電流強(qiáng)度對針尖和樣品之間的距離有著指數(shù)依賴關(guān)系,根據(jù)隧道電流的變化,我們可以得到樣品表面微小的起伏變化信息,如果同時對x-y方向進(jìn)行掃描,就可以直接得到三維的樣品表面形貌圖,這就是掃描隧道顯微鏡的工作原理。譜圖的表示方法:探針隨樣品表面形貌變化而引起隧道電流的波動提供的信息:軟件處理后可輸出三維的樣品表面形貌圖
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